ISSN: 2469-9861
野島将司、則川登紀夫、岸本直也
我々は、2つの回転電場(REF)を使用した新しい原理の質量分析装置を開発しています。この質量分析装置は、自由質量範囲でのイオンビームの連続質量分離と2次元(2D)平面での同時検出を実現できます。この論文では、適切な周波数でのAuGe液体金属イオン源(LMIS)の質量分離を目的としました。次に、理論計算によってREF内のイオン軌道をシミュレートし、各環状リングパターンの起源を特定しました。最後に、Siウェハ上に印刷されたAuGe環状リングパターンの飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)イメージングによって理論計算の確実性を確認しました。