質量分析と精製技術

質量分析と精製技術
オープンアクセス

ISSN: 2469-9861

概要

量子科学を活用したシリコン電子イオン化質量スペクトルの予測

ジョン・ファードゥイ

質量分析による化合物識別証明には、標準質量スペクトルが必要です。ここでは、量子科学技術をテストし、サブ原子要素を実際の手法と組み合わせて、in silico EI質量スペクトルを生成します。予測の精度をテストするために、小さな粒子のin silico質量スペクトルを作成し、NIST質量分析ライブラリのテストスペクトルと比較しました。天然酸素強度は、サブ原子サイズとともに計算時間が大幅に長くなり、計算精度が低下しました。開始温度、MD方向の数、および効果エネルギーを含む予測精度を構築するために、境界領域がテストされました。

免責事項: この要約は人工知能ツールを使用して翻訳されたものであり、まだレビューまたは検証されていません。
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